[光学设计] 光机设计中的杂光分析

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[LV.4]④大理秀才

发表于 2017-10-18 11:03:50 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 tracepro爱发 于 2017-11-6 10:45 编辑

杂散光发生在所有的光学和照明系统中,
如成像光学中的鬼影,光机表面中的一次和多次散射等。

在光学设计中,我们必须需要考虑杂光的影响。
TracePro在成像系统中的应用:
1.使用非序列性描光方式精确计算透镜系统的杂散光行为,并可仿真对象表面的入射、吸收与能量损失。
2.可仿真多层镀膜的光学性质。
3.可汇入主流光学透镜分析软件 ( 如 OSLO、Code V 等 ) 的透镜设计文件。
4.使用重点取样或自动重点取样功能来过滤散射传播路径,来增加天文望远镜或导弹系统中光线到达感光器的样本数。



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[LV.8]⑧大理王爷

发表于 2017-10-18 11:35:23 | 显示全部楼层
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[LV.10]⑩天龙寺主持

发表于 2017-10-18 13:36:28 | 显示全部楼层
偏向广告啊,还卖钱呀!
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[LV.3]③大理平民

发表于 2017-10-18 13:47:16 | 显示全部楼层
垃圾啊
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[LV.10]⑩天龙寺主持

发表于 2017-10-18 14:47:39 | 显示全部楼层
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[LV.10]⑩天龙寺主持

发表于 2017-10-18 17:15:09 | 显示全部楼层
广告贴也收金币?

Lambda-Stray-Light-Analysis-Using-TracePro-Data-Sheet.pdf

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发表于 2018-9-14 19:22:37 | 显示全部楼层
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